L'UNIVERSITÉ MONTPELLIER 2 SCIENCES ET TECHNIQUES

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Le Microscope Electronique à
     Transmission MET

    1- Principe de fonctionnement

 2- Fonctions et possibilités d'un MET

   3 - Préparation des échantillons
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Composition d'un microscope à
        transmission
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Une source d'électrons
 Dualité onde corpuscule pour l'électron
 Longueur d'onde associée λ=h/mv (h= constante de plank

m=masse de l'électron v=vitesse de l'électron)
 Résolution R=0.61 λ / n sin u (n=indice du milieu; u= demi angle

d'ouverture de la lentille objectif)
 Longueur d'onde photons visibles ► 400 nm < λ < 700 nm

 Longueur d'onde associée aux électrons ► 0,002 nm < λ <

0,004 nm
 Résolution pratique microscope optique ► 500nm

 Résolution atteinte par le microscope électronique à

transmission ► 0.07nm
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Longueur d'onde associée

                         λ (longueur d'onde
Tension d'accélération
                          associée en nm)
        75kV                   0,00430
       100kV                   0,00370
       300kV                   0,00197
       1000kV                  0,00087
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CANON à ELECTRONS

        VIDE POUSSE 1.10-5 Pa

       FAISCEAU D'ELECTRONS

          OBJET à OBSERVER
                                     La
LENTILLES ELECTROMAGNETIQUES
   OU BOBINES DEFLECTRICES        colonne
      FENETRE D'OBSERVATION
                                 d'un MET
       ECRAN D'OBSERVATION

             DISPOSITIF
     D'ENREGISTREMENT D'IMAGES
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Interaction électron matière
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Fonctionnement d'une colonne MET
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Image MET Champ Clair
                  Electrons transmis et
                   diffusés par
                   l'échantillon
                  Contraste d'amplitude
                   et diffusion
       11 um
          µm
                  Résolution 0,4-0,07nm
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Image MET Champ Clair
             Electrons transmis et
              diffusés par
              l'échantillon
             Contraste d'amplitude
              et diffusion
             Résolution 0,4-0,07nm
Image MET Champ Clair
             Electrons transmis et
              diffusés par
              l'échantillon
             Contraste d'amplitude
              et diffusion
             Résolution 0,4-0,07nm
Diffraction électronique
               Electrons diffractés =
                diffusés élastiquement
                dans certaines
                directions selon les
                angles de Bragg
               Structure cristalline et
                ses paramètres
               Résolution du µm à
                quelques nm
Images MET champ sombre
              Electrons diffractés par
               une même famille de
               plan de la structure
               cristalline
              Localisation d'objet en
               fonction de leur
               structure cristalline
              Résolution 0.4-0.07nm
Le mode STEM
          (Scanning Transmission Electron Microscopy)

                         Faisceau d'électron    Faisceau d'électron
Spectrométre photon X                            fin
                                                Système de
                                                 balayage
                                                Détecteurs dédiés
                              Détecteur HAADF
  Echantillon

                             Détecteur BF

                        Spectrométre EELS
Le STEM BF
 (Bright Field)
           Electrons diffusés aux
            petits angles
           Contraste de numéro
            atomique
           Résolution max 0.2nm
Le STEM HAADF
(High-Angle Annulaire Dark Field Detector)
                        Electrons diffusés aux
                         grands angles
                        Contraste de numéro
                         atomique
                        Résolution max 0.2nm
L'analyse élémentaire en MET
                 Le spectrométre pour les
                  photon X
                 - EDX (Energy Dispersive
                  Spectroscopy)
                 - WDS (Wavelength
                  Dispersive Spectroscopy)
                 Le spectrométre pour
                  l'étude des pertes
                  d'énergie des électrons
                 - EELS
Cartographie X
          STEM
          Détecteur de photon X
           (Energy Dispersive
           Spectroscopy ou WDS
           (Wavelength
           Dispersive
           Spectroscopy)
          Cartographie chimique
          Résolution jusqu'à
           quelques nm
Images EFTEM
(Energy Filtered transmission electron microscopy)
                            Spectrométre pour l'étude
                             des pertes d'énergie
                            Fente de selection
                             d'énergie
                            Image de répartition des
                             éléments chimiques pour
                             Z
Analyses EDX et EELS
             Pas de STEM
             Spectrométre EDS ou
              EELS
             Spectre moyen de la
              zone éclairée
             Analyse élémentaire
             Zone de quelques µm
              à quelques nm
Tomographie
        Camera numérique du
         MET
        Platine motorisée
        Série d'images tiltées
        Logiciel de
         reconstruction en 3D
         de l'objet
        Résolution quelques
         nm
Préparation des échantillons

Deux catégories d'échantillons :
 Les mous (C O N H)

 Les durs

But de la préparation:
 Echantillons minces
Les préparations au SCME
   Fixation                    Immunomarquage
   Déshydratation d'objet      Congélation rapide
    par point critique          Cryo substitution
   Ultramicrotomie             Metallisation par
   Cryo-Ultramicrotomie         évaporation et
   Réplique extractive          sputtering (Au,Au-Pd,
                                 Pt, C)
   Amincissement ionique
   Coloration négative
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