L'UNIVERSITÉ MONTPELLIER 2 SCIENCES ET TECHNIQUES
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Le Microscope Electronique à Transmission MET 1- Principe de fonctionnement 2- Fonctions et possibilités d'un MET 3 - Préparation des échantillons
Une source d'électrons Dualité onde corpuscule pour l'électron Longueur d'onde associée λ=h/mv (h= constante de plank m=masse de l'électron v=vitesse de l'électron) Résolution R=0.61 λ / n sin u (n=indice du milieu; u= demi angle d'ouverture de la lentille objectif) Longueur d'onde photons visibles ► 400 nm < λ < 700 nm Longueur d'onde associée aux électrons ► 0,002 nm < λ < 0,004 nm Résolution pratique microscope optique ► 500nm Résolution atteinte par le microscope électronique à transmission ► 0.07nm
Longueur d'onde associée λ (longueur d'onde Tension d'accélération associée en nm) 75kV 0,00430 100kV 0,00370 300kV 0,00197 1000kV 0,00087
CANON à ELECTRONS VIDE POUSSE 1.10-5 Pa FAISCEAU D'ELECTRONS OBJET à OBSERVER La LENTILLES ELECTROMAGNETIQUES OU BOBINES DEFLECTRICES colonne FENETRE D'OBSERVATION d'un MET ECRAN D'OBSERVATION DISPOSITIF D'ENREGISTREMENT D'IMAGES
Image MET Champ Clair Electrons transmis et diffusés par l'échantillon Contraste d'amplitude et diffusion 11 um µm Résolution 0,4-0,07nm
Image MET Champ Clair Electrons transmis et diffusés par l'échantillon Contraste d'amplitude et diffusion Résolution 0,4-0,07nm
Image MET Champ Clair Electrons transmis et diffusés par l'échantillon Contraste d'amplitude et diffusion Résolution 0,4-0,07nm
Diffraction électronique Electrons diffractés = diffusés élastiquement dans certaines directions selon les angles de Bragg Structure cristalline et ses paramètres Résolution du µm à quelques nm
Images MET champ sombre Electrons diffractés par une même famille de plan de la structure cristalline Localisation d'objet en fonction de leur structure cristalline Résolution 0.4-0.07nm
Le mode STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) Faisceau d'électron Faisceau d'électron Spectrométre photon X fin Système de balayage Détecteurs dédiés Détecteur HAADF Echantillon Détecteur BF Spectrométre EELS
Le STEM BF (Bright Field) Electrons diffusés aux petits angles Contraste de numéro atomique Résolution max 0.2nm
Le STEM HAADF (High-Angle Annulaire Dark Field Detector) Electrons diffusés aux grands angles Contraste de numéro atomique Résolution max 0.2nm
L'analyse élémentaire en MET Le spectrométre pour les photon X - EDX (Energy Dispersive Spectroscopy) - WDS (Wavelength Dispersive Spectroscopy) Le spectrométre pour l'étude des pertes d'énergie des électrons - EELS
Cartographie X STEM Détecteur de photon X (Energy Dispersive Spectroscopy ou WDS (Wavelength Dispersive Spectroscopy) Cartographie chimique Résolution jusqu'à quelques nm
Images EFTEM (Energy Filtered transmission electron microscopy) Spectrométre pour l'étude des pertes d'énergie Fente de selection d'énergie Image de répartition des éléments chimiques pour Z
Analyses EDX et EELS Pas de STEM Spectrométre EDS ou EELS Spectre moyen de la zone éclairée Analyse élémentaire Zone de quelques µm à quelques nm
Tomographie Camera numérique du MET Platine motorisée Série d'images tiltées Logiciel de reconstruction en 3D de l'objet Résolution quelques nm
Préparation des échantillons Deux catégories d'échantillons : Les mous (C O N H) Les durs But de la préparation: Echantillons minces
Les préparations au SCME Fixation Immunomarquage Déshydratation d'objet Congélation rapide par point critique Cryo substitution Ultramicrotomie Metallisation par Cryo-Ultramicrotomie évaporation et Réplique extractive sputtering (Au,Au-Pd, Pt, C) Amincissement ionique Coloration négative
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